OPTOFLASH柔性光學(xué)測(cè)量機(jī)，是馬波斯公司測(cè)量機(jī)部門的產(chǎn)品。Optoflash不僅能在實(shí)驗(yàn)室里，也能在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下進(jìn)行快速、精細(xì)的質(zhì)量控制。該系統(tǒng)提供了一套種類齊全、應(yīng)用的測(cè)量軟件，可以輕松地解決各種常見的測(cè)量問題，包括靜態(tài)和動(dòng)態(tài)旋轉(zhuǎn)模式下的尺寸、位置和形狀測(cè)量。此外，它還具有獨(dú)特的螺紋參數(shù)測(cè)量功能。Optoflash測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用了全球關(guān)鍵的光電技術(shù)，能以前所未有的快速度，對(duì)各類軸類件進(jìn)行微米級(jí)精度的測(cè)量。Optoflash機(jī)器上所集成的一個(gè)或多個(gè)固定式光學(xué)傳感器，可以覆蓋整個(gè)測(cè)量范圍。該設(shè)計(jì)具有突出的優(yōu)點(diǎn)，即無論是光學(xué)系統(tǒng)，還是被測(cè)量的零件，兩者都無需沿軸向進(jìn)行移動(dòng)。馬波斯齒輪產(chǎn)品線包括多種類型齒輪尺寸測(cè)量,如用于DOB檢查的量規(guī),雙嚙和單嚙齒輪滾子測(cè)量的量規(guī)測(cè)量系統(tǒng)?？照{(diào)泵加工檢測(cè)

玻璃容器加工尺寸控制的方法：加工尺寸控制包括：?總高度?垂直度?嘴平行度?外徑，或長(zhǎng)/短邊，以及瓶身的對(duì)角線?頸部外徑?各種表面處理的許多不同參數(shù)（例如直徑、高度、半徑、角度……）這些尺寸控制可以通過go-no-go通止規(guī)在生產(chǎn)線附近實(shí)現(xiàn)，也可以在實(shí)驗(yàn)室使用手動(dòng)量規(guī)或半自動(dòng)/自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)在樣件上進(jìn)行。但使用通止規(guī)進(jìn)行尺寸控制會(huì)有一些問題：它不提供定量信息，而且依賴于操作員的技能。持續(xù)使用通止規(guī)成本高昂，因?yàn)槊考a(chǎn)品都需要一套**的通止規(guī)，這些硬規(guī)需要日常管理并定期重新校準(zhǔn)。此外，這種方法不可能收集所有測(cè)量數(shù)據(jù)并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析以改進(jìn)加工工藝和過程。檢測(cè)設(shè)備外觀怎么樣馬波斯電機(jī)檢測(cè)解決方案旨在通過使用識(shí)別電機(jī)內(nèi)部潛在趨勢(shì)的設(shè)備來檢查電機(jī)的完整性。

由于在高轉(zhuǎn)速和高扭矩下工作,轉(zhuǎn)子軸必須承受恒定的機(jī)械應(yīng)力。為了使這些部件達(dá)到比較高質(zhì)量,必須對(duì)其某些方面(如軸承,座)進(jìn)行極其精確的磨削操作。成品質(zhì)量和優(yōu)化周期是整個(gè)工藝過程中十分重要的。Marposs在磨削過程監(jiān)控方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)。Marposs設(shè)計(jì)開發(fā)一整套傳感器,這些傳感器專門設(shè)計(jì)用于在不同磨削階段控制所有的關(guān)鍵參數(shù):過程中和過程后測(cè)量、動(dòng)平衡聲發(fā)射、振動(dòng)和功率。Marposs提供定制化動(dòng)態(tài)測(cè)量工站對(duì)軸或轉(zhuǎn)子組件進(jìn)行自動(dòng)加工后測(cè)量。

Optoflash具有2D圖像相機(jī)的結(jié)構(gòu)，為軸類件光學(xué)測(cè)量行業(yè)設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)測(cè)量操作來講是很重要的優(yōu)勢(shì)。通孔測(cè)量：通孔測(cè)量的時(shí)間只在毫秒之間，而且結(jié)果更加準(zhǔn)確。無以倫比的測(cè)量速度動(dòng)的設(shè)計(jì)。完全的2D，基于不需要光學(xué)結(jié)構(gòu)。另外。Optoflsh具有2D圖像的連續(xù)性，完整的輪廓和工件圖像都可以在一張照片中采集，所以可以盡可能大的獲取數(shù)據(jù)，減少機(jī)械誤差。同時(shí)，Optoflsh具有軸向端面跳動(dòng)，2D圖像的算法，使得整個(gè)端面的表面都可以在每個(gè)旋轉(zhuǎn)角度都被動(dòng)態(tài)掃描出。所以O(shè)ptoflash測(cè)量軸向端面跳動(dòng)的結(jié)果比傳統(tǒng)線掃描光學(xué)設(shè)備的更好。通孔測(cè)量的時(shí)間只在毫秒之間，而且結(jié)果更加準(zhǔn)確。非接觸式測(cè)量系統(tǒng)，能夠?qū)Πl(fā)卡的主要幾何特征進(jìn)行尺寸測(cè)量。

Optoquick具有實(shí)時(shí)的柔性和極高的性價(jià)比?？蓪蝹€(gè)Optoquick，用于監(jiān)控相同生產(chǎn)區(qū)內(nèi)的多臺(tái)機(jī)床以及多種不同類型的工件。Optoquick通過簡(jiǎn)單的操作員選擇或條形碼掃描，就能即時(shí)切換到一個(gè)新的測(cè)量程序。Optoquick具有長(zhǎng)久的投資回報(bào)。能夠?yàn)榭蛻舻纳a(chǎn)規(guī)劃了一個(gè)非常柔性與可重新配置的策略。需要采用現(xiàn)有生產(chǎn)線以制造新產(chǎn)品或者只需要生產(chǎn)現(xiàn)有零件的新版本。這對(duì)于Optoquick而言，都不是問題。只需要在Optoquick上添加一個(gè)新的測(cè)量程序。Optoquick，面向未來的柔性。馬波斯的測(cè)量技術(shù)幾乎涵蓋了當(dāng)今工業(yè)應(yīng)用和需求的大多數(shù)解決方案。檢測(cè)設(shè)備外觀怎么樣

E.D.C.自1998年以來開發(fā)的用于局部放電絕緣測(cè)試的方法基于電容耦合技術(shù)?？照{(diào)泵加工檢測(cè)

對(duì)于半導(dǎo)體行業(yè)來說，圓晶測(cè)量和缺陷檢測(cè)都是半導(dǎo)體生產(chǎn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，檢測(cè)和控制生產(chǎn)中的每一步生產(chǎn)質(zhì)量。為了顯微測(cè)量，馬波斯提供2D光譜共焦線掃相機(jī)。在超高分辨率和超大景深應(yīng)用中，可在Z軸上準(zhǔn)確聚焦。因此，這是檢測(cè)圓晶缺陷的理想選擇，例如，圓晶沿的檢測(cè)和封裝期間的檢測(cè)。這些傳感器都允許集成在測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備中。馬波斯和STIL在數(shù)十年的發(fā)展中積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，可為用戶提供量身定制解決方案和的光學(xué)設(shè)計(jì)。馬波斯的小橫向分辨率為0.4μm*0.4μm，大傾斜角為+/-45°，0.75數(shù)值孔徑?？照{(diào)泵加工檢測(cè)