ICT測試不良及常見故障的分析方法：A、如果測試值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了較大的偏移，而不是量測值為無窮大的情況，則可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）錯(cuò)件；（2）有內(nèi)阻的被動(dòng)組件的影響；（3）測試點(diǎn)有問題。B、如果量測值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了很小的偏移，這種情況多為零件誤差引起的，但是為了準(zhǔn)確起見，較好是通過比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測值偏移，如果由于誤差的原因造成的話，需由工程人員作相應(yīng)的程序調(diào)整。ICT測試范圍電阻的測試范圍：一般0.05Ω～40MΩ。北京在線ICT儀器哪里有賣

不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值等提供給維修人員參考，可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴度。ICT測試治具能夠?qū)⑸厦嫠墓收弦杂”頇C(jī)印出測試結(jié)果，不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值等提供給維修人員參考，可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴度。ICT測試治具能夠?qū)y試不良資訊統(tǒng)計(jì)，自動(dòng)化測試治具，生產(chǎn)管理人員加以分析，模組測試治具，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。濟(jì)南在線測試治具報(bào)價(jià)治具的設(shè)計(jì)基本上是建立于邏輯，類似的治具可能會(huì)因?yàn)槭褂糜诓煌臅r(shí)間和地點(diǎn)而分別產(chǎn)生。

ICT測試治具檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：1.電源配線是否按+5V為2號(hào)針,+12V為15號(hào)針,+3.3V為10號(hào)針,GND為5號(hào)針；2.FIN零件,防呆針是否制成OPEN狀態(tài)；3.TJ大小是否和IC一樣大,是否壓到其他零件(大小誤差為+/-1mm；4.貼圖正看A1是否在左上方；5.彈簧是否全部為16L,彈簧深7mm；6.TestJet牛角是否70mm,鎖右上一格,缺口朝下；7.天板(厚5mm):平頭螺絲4Φ*10mm長,天板銑沉頭；8.壓棒平頭是否Φ6.3(6.0)*20mm尖頭Φ2.0mm*20mm螺絲用圓頭3Φ*15mm壓棒與零件須距2mm以上距離；9.載板是否銑凹槽提把,60*30*4(mm)；10.天板刮傷目視,例:周邊鋁柱內(nèi)不可刮傷；11.周邊是否刮除利角,需專門雙邊例角工具；12.綜合檢查外觀,包裝及標(biāo)示是否到位,是否正確,明顯。

ICT測試治具的一些測試，IC保護(hù)二極體，測試原理：利用IC各引腳對(duì)IC地腳或電源腳存在的保護(hù)二極體對(duì)IC引腳保護(hù)二極體進(jìn)行測試?？蓽y試出IC保護(hù)二極體是否完好，被測試IC是否極反，移位。IC空焊測試TESTJET測試原理：利用放置在治具上模的感測板壓貼在待測的IC上，利用量測感測板的銅箔與IC腳框之間的電容量偵測接腳的開路。系統(tǒng)由測試點(diǎn)送一個(gè)200mV,10KHz的信號(hào)到IC的接腳上，信號(hào)經(jīng)過ICframe與感測板之間的電容耦合到感測板上再經(jīng)過架在感測板上的放大器接到64Channel的Signalconditioningcard做選擇和放大信號(hào)的工作，較后接到系統(tǒng)的TestJetBoard去量測信號(hào)的強(qiáng)度。如果IC的接腳有開路情況系統(tǒng)會(huì)因偵測不到信號(hào)而得知其為開路。Testjet通常用來測試IC元件由于生產(chǎn)引起的缺陷:開路、錯(cuò)位、丟失。電解電容三端測試：測量電容外殼對(duì)電容正極和負(fù)極阻抗不同。其他零件測試：晶振測量其電容，變壓器測量其電阻。電容插反可以通過圖像識(shí)別或者ICT檢測出來。

如果重復(fù)定位會(huì)造成的結(jié)果：1、阻礙工件的裝置或定位不穩(wěn)定，使其得不到斷定方位。2、導(dǎo)致定位就會(huì)容易產(chǎn)生變形或工件變形。專業(yè)治具加工：治具的制造的選材專業(yè)治具加工：治具的制造的選材:治具的制造要根據(jù)實(shí)踐的情況選用恰當(dāng)?shù)馁Y料，這樣可大起伏的降低本錢，一起通用可重復(fù)使用的底座也可大起伏的降低本錢，而且使治具制造標(biāo)準(zhǔn)化方便制造，進(jìn)步治具的質(zhì)量。測驗(yàn)架中測驗(yàn)針及相關(guān)資料的選用對(duì)測驗(yàn)治具的好壞及本錢是非常重要的。ict測試儀需要足夠多的測試點(diǎn)數(shù)。沈陽ICT測試儀器廠家

ICT測試治具對(duì)工藝類發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。北京在線ICT儀器哪里有賣

測試針帶動(dòng)ICT測試冶具的運(yùn)行嗎？隨著信息技術(shù)時(shí)代的發(fā)展，而今信息化表示了世界發(fā)展的潮流。信息產(chǎn)業(yè)不僅推動(dòng)了全球的經(jīng)濟(jì)發(fā)展，而且成為科技創(chuàng)新的中心力量。ICT市場前景廣闊，那ICT測試治具來說吧：ICT測試冶具是整個(gè)ICT設(shè)計(jì)、流片、應(yīng)用過程中不可或缺的一環(huán)，它不僅可幫助廠商大幅節(jié)省測試成本，且測試結(jié)果直觀可靠。測試針是ICT測試冶具中的重要零件之一，那么它主要起到了什么作用呢？1、增強(qiáng)耐用度：ICT測試冶具測試針設(shè)計(jì)使彈簧空間比傳統(tǒng)探針要大，因而可以達(dá)到更長的壽命和容納更強(qiáng)的彈力。2、獨(dú)有的一直不間斷電接觸設(shè)計(jì)：行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，徹底消除任何因探針導(dǎo)致的假性開路誤叛。3、至目標(biāo)測點(diǎn)準(zhǔn)確度誤差更嚴(yán)謹(jǐn)：ICT測試冶具的測試針能達(dá)到同類型產(chǎn)品無法比擬的至目標(biāo)測點(diǎn)準(zhǔn)確度。ICT測試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒；采用超短進(jìn)口雙頭探針設(shè)計(jì)，相比同類測試產(chǎn)品，可使ICT和PCB之間的數(shù)據(jù)傳輸距離更短，從而保證測試結(jié)果更穩(wěn)定，頻率更高，DDR3系列較高頻率可達(dá)2000MHz。北京在線ICT儀器哪里有賣