APPH信號源分析儀可輕松可靠地測量高達65GHz脈沖信號的和加性相位噪聲。該分析儀采用一種先進的PLL方法，具有很大的動態(tài)范圍，并結合使用交叉相關分析，可降低本底噪聲。該儀器可進行直觀的標準脈沖測量（選件PULSE）或增強型（選件NPS）脈沖測量。新發(fā)布的LO前端選件可使用內(nèi)部低噪聲脈沖信號源，從而無需外部信號源就可測量加性相位噪聲，并使測量的設置過程更快、更直觀。相位噪聲（Phase noise）是指系統(tǒng)（如各種射頻器件）在各種噪聲的作用下引起的系統(tǒng)輸出信號相位的隨機變化。它是衡量頻率標準源（高穩(wěn)晶振、原子頻標等）頻穩(wěn)質(zhì)量的重要指標，隨著頻標源性能的不斷改善，相應噪聲量值越來越小，因而對相位噪聲譜的測量要求也越來越高。使用信號分析儀需要注意進行相位噪聲測量的方法。遼寧APPH6040相噪分析儀市場報價

信號源分析儀具體可以測量哪些參數(shù)？頻率、射頻功率和直流電流（位于直流電源電壓端口）測量可以與直流控制電壓或直流電源電壓上的電壓掃描同步進行。只需要一次測試連接就可以在屏幕上得到每個參數(shù)的跡線曲線，可以測量以下參數(shù)：1）頻率與直流控制（調(diào)諧）電壓的關系2）調(diào)諧靈敏度（頻率與直流調(diào)諧電壓變化之間的關系）3）頻率與直流電源電壓的關系；4）頻率推移（頻率與直流電源供電電壓變化之間的關系）；5）射頻功率與直流控制（調(diào)諧）電壓的關系；6）射頻功率與直流電源電壓的關系；7）直流電流（位于直流電源電壓端）。江西APPH40G相噪分析儀信號源分析儀是測量晶振、PLL、時鐘電路、相位噪聲的常用儀器。

    APPH50/64G相位噪聲分析儀和VCO測試儀—輸入高達64G，他們是APPH系列中全新上市的高性能相位噪聲分析儀和VCO測試儀，其兩個不同型號的頻率范圍分別覆蓋了從5MHz到50或64GHz。它的本底噪聲低至-190dBc/Hz并提供了一系列相位噪聲分析儀必不可少的分析和測量功能，用于評估信號源（晶體振蕩器、VCO、發(fā)射器、鎖相環(huán)、頻率合成器等，范圍從VHF到微波頻率），以及有源和無源非自振設備，如放大器或分頻器等。這些功能包括相位噪聲和加性相位噪聲、幅度噪聲、脈沖、抖動和艾倫偏差、瞬態(tài)分析、VCO表征和頻譜監(jiān)測。APPH系列標配FPGA互相關運算頻譜引擎的混合信號系統(tǒng)架構可實現(xiàn)非常高速的信號處理和極低相位噪聲測試靈敏度。APPH系列同時內(nèi)置可編程電源和低噪聲調(diào)諧電壓使該裝置極其靈活且易于使用。

相位噪聲分析儀中的基本相位噪聲定義：相位噪聲：相位噪聲定義為信號中發(fā)生的短期相位波動引起的噪聲。波動表現(xiàn)為邊帶，邊帶表現(xiàn)為擴展到信號兩側的噪聲頻譜。相位抖動：相位抖動是用于查看相位波動本身的術語，即在任何給定時間，相位位置相對于純信號的預期偏差。因此，以弧度為單位測量相位抖動。頻譜：相位噪聲的頻譜是指可以從頻譜分析儀獲得的曲線圖。信號頻譜將顯示中心有用信號，其噪聲邊帶在主載波的兩側延伸。頻譜密度：頻譜密度將RMS相分布描述為連續(xù)函數(shù)，對于給定的單位帶寬，以RMS相的單位表示。信號源分析儀采用雙通道互相關技術，具有出色的相位噪聲，幅度噪聲和基帶噪聲測量能力。

相位噪聲是雷達系統(tǒng)性能的重要參數(shù)。大多數(shù)雷達采用脈沖調(diào)制，通過檢測雷達收到的反射信號相對于發(fā)射信號頻率的多普勒頻移導出目標的速度。發(fā)射機自身的相位噪聲會嚴重影響此檢測的分辨率和精度，從而限制了雷達的檢測閾值和精度。因此，脈沖信號的相位噪聲已變得越來越重要。 脈沖雷達系統(tǒng)中帶來相位噪聲的因素可以是加性的，也可以是的，可以使用不同的方法測量它們，每種方法各有優(yōu)點和缺點。鎖相環(huán)（PLL）方法即可為加性噪聲測量也可為噪聲測量提供解決方案，非常適合表征相位噪聲性能，因為它動態(tài)范圍高、本底噪聲低并且可重復又可靠。帶有新的本地振蕩器（LO）選件的AnaPico APPH信號源分析儀是表征脈沖信號相位噪聲的有用工具。了解正在使用的相位噪聲測試系統(tǒng)的特定噪底限制非常重要。廣東APPH40G相噪分析儀廠家

相位噪聲分析儀通過升級可支持單機脈沖相噪測試(例如脈沖重復率、脈沖寬度)；遼寧APPH6040相噪分析儀市場報價

相位噪聲測量儀的注意事項：注意分析儀的動態(tài)范圍對測量的影響，動態(tài)范圍表示了分析儀的測量范圍，其下限取決于分析儀自身靈敏度和相位噪聲，其上限取決于1dB壓縮點。在偏離載波較近處能達到的動態(tài)范圍的下限主要取決于分析儀自身的相位噪聲，在偏離載波較遠處分析儀自身的相位噪聲很低，動態(tài)范圍的下限主要取決于分析儀的靈敏度。由于分析儀無載波抑制功能，測量的動態(tài)范圍受限，尤其是測量偏離載波較遠處的相噪時，需要判斷測量是否受限于分析儀的動態(tài)范圍，以免測量結果產(chǎn)生錯誤。遼寧APPH6040相噪分析儀市場報價

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