相位噪聲表示短期頻率穩(wěn)定性、物理現(xiàn)象的兩種方法,相位噪聲表示為頻域,短期頻率穩(wěn)定性表示為時域。相位噪聲通常是指系統(tǒng)內(nèi)各種噪聲作用引起的輸出信號相位的隨機波動。相位的隨機波動一定會引起頻率隨機波動,這種波動因為速度快被稱為短期頻率穩(wěn)定度,使用單邊波段、1Hz帶寬內(nèi)的相位噪聲功率譜密度嗎?時域一般用在一定的時間間隔內(nèi),頻率變化的相對值是測量時間的函數(shù),一般用方差說明頻率穩(wěn)定性,可以分為長期穩(wěn)定性和短期穩(wěn)定性,目前沒有嚴(yán)格的界限。相噪分析儀可用于評估信號源(晶體振蕩器、VCO、發(fā)射器、鎖相環(huán)、頻率合成器等,范圍從 VHF 到微波頻率)。北京高性能相噪分析儀頻譜分析儀
相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域非常重要的指標(biāo),相位噪聲指標(biāo)的測試為研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)、調(diào)試是必須測試的指標(biāo),測試準(zhǔn)確度要求高,需要考慮的因素很多。數(shù)字相位調(diào)整方法包括環(huán)路鎖相環(huán)、環(huán)路帶寬內(nèi)的噪聲抑制補償、相同的靈敏度,提高了測試效率。數(shù)字相位調(diào)整方法可以輕松實現(xiàn)脈沖相位噪聲、附加相位噪聲、脈沖附加相位噪聲測試、VCO測試和瞬態(tài)測試等多種測試要求,極大地滿足了各種測試要求??梢酝瑫r測量各種測試要求。同時,數(shù)字相位調(diào)整法測試比較簡單,沒有復(fù)雜的操作設(shè)置,測試速度較快。特別是通過在數(shù)字相位調(diào)整方法的基礎(chǔ)上添加相互相關(guān)的算法進行測試,測試靈敏度非常高,是目前進行相位噪聲測試和其他相關(guān)測試的很出色的測試方法和手段。安徽APPH20G相噪分析儀基帶噪聲分析相噪分析儀如何測量相位噪聲。
相位噪聲通常定義為在某一給定偏移頻率處的dBc/Hz值,其中,dBc是以dB為單位的該頻率處功率與總功率的比值。一個振蕩器在某一偏移頻率處的相位噪聲定義為在該頻率處1Hz帶寬內(nèi)的信號功率與信號的總功率比值。相位噪聲(Phasenoise)是指系統(tǒng)(如各種射頻器件)在各種噪聲的作用下引起的系統(tǒng)輸出信號相位的隨機變化。它是衡量頻率標(biāo)準(zhǔn)源(高穩(wěn)晶振、原子頻標(biāo)等)頻穩(wěn)質(zhì)量的重要指標(biāo),隨著頻標(biāo)源性能的不斷改善,相應(yīng)噪聲量值越來越小,因而對相位噪聲譜的測量要求也越來越高。傳統(tǒng)的零拍測量法已面臨嚴(yán)重的挑戰(zhàn),特別是在如何減少測量系統(tǒng)本身的噪聲對測量結(jié)果的影響,提高系統(tǒng)的測量靈敏度方面尤為困難。
為了測量相位噪聲有更高的靈敏度,工程師們改進了相位噪聲測試的方法,同時也改變了相位噪聲的定義。這種新的測量方法就是直接測量信號相位的鑒相器法。在1999年版本的“IEEE基本頻率和時間計量物理量的標(biāo)準(zhǔn)定義”,將相位噪聲的定義修改為:單邊帶相位噪聲L(f)定義為隨機相位波動φ(t)單邊帶功率譜密度Sφ(f)的一半,其單位為dBc/Hz。我們可以稱之為相位噪聲的相位定義。鑒相器方法測量相位噪聲的優(yōu)點有:·可以區(qū)分調(diào)幅噪聲和相位噪聲;測量相位噪聲的靈敏度大幅度提高,互相關(guān)算法可突破儀表自身相位噪聲的限制;鑒相器的載波抑制效果可以回避動態(tài)范圍問題;可以測量近載波的相位噪聲.APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號源分析儀/相噪分析儀。
相位噪聲是噪聲功率密度與載波功率之比的分貝數(shù)。換一種更加通俗易懂的說法:某頻點偏移一定帶寬處的噪聲信號功率與有用信號功率的比值,該比值除以測量帶寬即是相位噪聲。單位是:dBc/Hz。
相位噪聲好壞對通訊系統(tǒng)有很大影響,尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多,頻道又很密集,并且不斷的變換,所以對相位噪聲的要求也愈來愈高。如果本振信號的相位噪聲較差,會增加通信中的誤碼率,影響載頻跟蹤精度。相位噪聲不好,不僅增加誤碼率、影響載頻跟蹤精度,還影響通信接收機信道內(nèi)、外性能測量,相位噪聲對鄰近頻道選擇性有影響。如果要求接收機選擇性越高,則相位噪聲就必須更好,要求接收機靈敏度越高,相位噪聲也必須更好。 AnaPico相噪分析儀緊湊、輕便、易攜帶,重量只有10kg。嘉興APPH6040相噪分析儀廠家現(xiàn)貨
APPH相噪分析儀可在0.01 Hz至100 MHz的偏移范圍內(nèi)實現(xiàn)低至-190 dBc/Hz的測量。北京高性能相噪分析儀頻譜分析儀
直接頻譜分析法:直接頻譜儀法基于頻譜測量結(jié)果進行相噪計算,優(yōu)勢在于測試設(shè)置簡單、頻率偏移范圍大,除相噪外還可測試雜散、鄰信道功率泄漏(ACLR)、高次諧波和信號解調(diào)等。但該測量方法也受限于無法區(qū)分調(diào)幅(AM)噪聲和相位噪聲,無載波抑制動態(tài)范圍有限,頻譜儀固有相噪,以及1HzRBW帶來小頻偏1Hz限制等。鑒相器法:是采用被測振蕩器與同頻的參考信號源進行鑒相,鑒相器輸出信號經(jīng)低通濾波器和低噪聲放大器后輸入到頻譜儀或接收機中。鑒相器法測試相位噪聲優(yōu)點是鑒相后信號的載波被抑制,因此可以提高相位噪聲的測試靈敏度。另外,可以采用低噪聲放大器對鑒相后的信號進行放大,從而可以降低測量接收機的噪聲系數(shù),進一步提高其測試靈敏度。同時,對于信號中同時存在的AM噪聲和相位噪聲,可以通過調(diào)整兩路信號的相位差,使鑒相器可以分辨AM噪聲和相位噪聲。如果兩路鑒相信號相位相差90°,則鑒相后輸出對AM噪聲的抑制可以高達40dB,當(dāng)兩路鑒相信號相位相差0°時,則輸出結(jié)果只有AM噪聲。北京高性能相噪分析儀頻譜分析儀
安鉑克科技,2020-09-03正式啟動,成立了微波模擬信號發(fā)生器,矢量信號發(fā)生器,頻率綜合器,相位噪聲分析儀等幾大市場布局,應(yīng)對行業(yè)變化,順應(yīng)市場趨勢發(fā)展,在創(chuàng)新中尋求突破,進而提升Anapico的市場競爭力,把握市場機遇,推動儀器儀表產(chǎn)業(yè)的進步。安鉑克科技經(jīng)營業(yè)績遍布國內(nèi)諸多地區(qū)地區(qū),業(yè)務(wù)布局涵蓋微波模擬信號發(fā)生器,矢量信號發(fā)生器,頻率綜合器,相位噪聲分析儀等板塊。我們在發(fā)展業(yè)務(wù)的同時,進一步推動了品牌價值完善。隨著業(yè)務(wù)能力的增長,以及品牌價值的提升,也逐漸形成儀器儀表綜合一體化能力。安鉑克科技始終保持在儀器儀表領(lǐng)域優(yōu)先的前提下,不斷優(yōu)化業(yè)務(wù)結(jié)構(gòu)。在微波模擬信號發(fā)生器,矢量信號發(fā)生器,頻率綜合器,相位噪聲分析儀等領(lǐng)域承攬了一大批高精尖項目,積極為更多儀器儀表企業(yè)提供服務(wù)。