相位噪聲指標(biāo)對于當(dāng)前的射頻微波系統(tǒng)、移動通信系統(tǒng)、雷達系統(tǒng)等電子系統(tǒng)影響非常明顯，將直接影響系統(tǒng)指標(biāo)的優(yōu)劣。該項指標(biāo)對于系統(tǒng)的研發(fā)、設(shè)計均具有指導(dǎo)意義。相位噪聲指標(biāo)的測試手段很多，如何能夠精細的測量該指標(biāo)是射頻微波領(lǐng)域的一項重要任務(wù)。隨著當(dāng)前接收機相位噪聲指標(biāo)越來越高，相應(yīng)的測試技術(shù)和測試手段也有了很大的進步。同時，與相位噪聲測試相關(guān)的其他測試需求也越來越多，如何準(zhǔn)確的進行這些指標(biāo)的測試也愈發(fā)重要。APPH相位噪聲分析儀可快速的測量設(shè)置并測量。江西APPH20G相噪分析儀廠家現(xiàn)貨

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相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備的一項重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問題，通過相位噪聲的表征和測試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于測控系統(tǒng)，衡量其頻率源的質(zhì)量。相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備(包括測控、雷達、通信、導(dǎo)航、干涉儀、射電天文、電子測量和近代物理實驗等)的一項重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問題，通過相位噪聲的表征和測試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于頻率源的設(shè)計和研制提高頻率源的質(zhì)量。

無論是測試CW信號相位噪聲還是脈沖信號的相位噪聲指標(biāo)或AM噪聲測試等相關(guān)測試，測量結(jié)果都受到參考源和相位噪聲本身的影響。為了進一步提高測試靈敏度，減少參考源和逆變器的影響，可以基于逆變器或數(shù)字相位調(diào)整方法使用相互相關(guān)的技術(shù)。該方法是互相關(guān)電路和互相關(guān)算法。測試的信號分為兩種方法，一種是參考信號源和欣賞或數(shù)字調(diào)整，另一種是與其他參考源進行欣賞或數(shù)字調(diào)整，兩種輸出信號分別進行過濾、放大、ADC采樣，然后進行相互相關(guān)的運算。(阿爾伯特愛因斯坦，NorthernExposure，成功)相互關(guān)聯(lián)的技術(shù)提高測量靈敏度的程度取決于相互關(guān)聯(lián)的運算次數(shù)。參考振蕩器和測試系統(tǒng)的噪聲測試性能可通過10，000次測量結(jié)果之和提高20dB。APPH相噪分析儀是一款一體式緊湊型相位噪聲測量系統(tǒng)。

    相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域一項非常關(guān)鍵的指標(biāo)，相位噪聲指標(biāo)的測試是研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)、調(diào)試必須進行測試的一項指標(biāo)，測試準(zhǔn)確度要求較高，需要考慮的因素較多。數(shù)字相位解調(diào)法不需要鎖相環(huán)，無需環(huán)路帶寬內(nèi)的噪聲抑制補償，相同靈敏度下，極大提高測試效率。數(shù)字相位解調(diào)法非常易于實現(xiàn)脈沖相位噪聲，附加相位噪聲，脈沖附加相位噪聲測試，VCO測試及瞬態(tài)測試等多項測試要求，可以極大的滿足多方面測試要求。并且可以進行多種測試需求的并行測量。同時數(shù)字相位解調(diào)法測試比較簡單，無需復(fù)雜的操作設(shè)置，測試速度快。尤其是數(shù)字相位解調(diào)法基礎(chǔ)之上增加互相關(guān)算法進行測試，使得測試靈敏度極高，是目前進行相位噪聲測試以及其他相關(guān)測試比較好異的測試方法和手段。 APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號源分析儀/相噪分析儀。陜西操作簡單相噪分析儀銷售

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