更換測(cè)頭時(shí)，因?yàn)闇y(cè)針長(zhǎng)度是測(cè)頭自動(dòng)校正的重要參數(shù)，如果出現(xiàn)錯(cuò)誤，會(huì)造成測(cè)針的非正常碰撞，輕者碰壞測(cè)針，重則造成測(cè)頭損壞。一定要注意。正確輸入標(biāo)準(zhǔn)球直徑。從以上所述的校正測(cè)頭的原理中可以得知，標(biāo)準(zhǔn)球直徑值直接影響測(cè)針寶石球直徑的校正值。雖然這是一個(gè)“小概率事件”，但是對(duì)初學(xué)者來(lái)說(shuō)，這是可能發(fā)生的。測(cè)頭校正是測(cè)量過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)，在校正中產(chǎn)生的誤差將加入到測(cè)量結(jié)果中，尤其是使用組合測(cè)頭(多測(cè)頭角度、位置和測(cè)針長(zhǎng)度)時(shí)，校正的準(zhǔn)確性特別重要。當(dāng)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題再重新檢查測(cè)頭校正的效果，會(huì)浪費(fèi)寶貴的時(shí)間和增加大量的工作量。紅外線測(cè)頭是接觸式觸發(fā)測(cè)頭。上海雷尼紹測(cè)頭生產(chǎn)廠
雷尼紹加長(zhǎng)桿測(cè)針： 關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括： TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）， TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）， PI200測(cè)頭接口， SCR200測(cè)針交換架， 還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。 零復(fù)位誤差， 快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖， TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。江蘇RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針價(jià)位由安裝牢固的測(cè)針組成的多測(cè)尖測(cè)針配置。測(cè)球材質(zhì)為紅寶石、氮化硅或氧化鋯。
盤(pán)形測(cè)針：在球的中心附近截?cái)嘧龀傻谋P(pán)模樣的測(cè)頭；盤(pán)形斷面的形象因?yàn)槭乔?，所以校正原理和球形測(cè)頭相同；利用外側(cè)直徑部分或厚度部分進(jìn)行測(cè)量；適用于測(cè)量瓶頸面間的尺寸, 槽的寬或形象等的；利用環(huán)規(guī)校正較便利。星形測(cè)針：用于多形態(tài)的多樣工件測(cè)量；同時(shí)校正并使用多個(gè)測(cè)頭，所以可以使測(cè)頭運(yùn)動(dòng)小化，并測(cè)量側(cè)面的孔或槽等；使用和球形測(cè)頭一樣的方法進(jìn)行校正。點(diǎn)式測(cè)針：一般的XY測(cè)量時(shí)不使用；用于測(cè)量精密度低的螺絲槽,標(biāo)示的點(diǎn)或裂紋劃痕等；比起使用具有半徑的點(diǎn)式測(cè)頭的情況，可能精密的進(jìn)行校正，用于測(cè)量非常小的孔的位置等。
三坐標(biāo)測(cè)針是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭系統(tǒng)的組成部分，主要用來(lái)觸測(cè)工件表面，通過(guò)測(cè)頭的機(jī)械裝置移位，產(chǎn)生信號(hào)觸發(fā)并采集測(cè)量數(shù)據(jù)?，F(xiàn)在市場(chǎng)上應(yīng)用的是紅寶石材質(zhì)的測(cè)針。對(duì)于接觸式探測(cè)而言，選用正確的三坐標(biāo)測(cè)針可以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，以及測(cè)量的效率。對(duì)于測(cè)針來(lái)講，選擇三坐標(biāo)測(cè)針時(shí)應(yīng)盡可能選擇大測(cè)球的測(cè)針進(jìn)行測(cè)量。大測(cè)球的測(cè)針能增大測(cè)球大徑到測(cè)針桿表面的距離，從而減少碰撞測(cè)針引起誤觸發(fā)的概率。由于被測(cè)工件的表面光潔度對(duì)三坐標(biāo)測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性直接影響，所以，在三坐標(biāo)測(cè)量時(shí)，測(cè)針測(cè)球直徑越大，對(duì)測(cè)工件表面光潔度的要求越低。測(cè)針是三坐標(biāo)測(cè)量的重要部件，在測(cè)量中測(cè)針的正確選擇往往會(huì)影響整個(gè)測(cè)量過(guò)程。
由5根安裝牢固的測(cè)針組成的星形測(cè)針：按機(jī)器測(cè)頭實(shí)際配置進(jìn)行虛擬測(cè)頭裝配的過(guò)程。通過(guò)測(cè)頭的裝配，可以確定機(jī)器所裝配測(cè)頭的相關(guān)參數(shù)。選擇“操作選擇工具條”中的“測(cè)頭”（快捷鍵Ctrl+F2）），選擇“構(gòu)建測(cè)頭”,進(jìn)入構(gòu)建測(cè)頭界面。在使用探頭測(cè)量前，必須進(jìn)行探頭校驗(yàn)，以確定探頭補(bǔ)償?shù)拇笮?。?次校驗(yàn)需要選中“更新校驗(yàn)規(guī)”，手動(dòng)操作機(jī)器校準(zhǔn)一遍測(cè)頭（在標(biāo)準(zhǔn)球正上方觸測(cè)一點(diǎn)，赤道處觸測(cè)三點(diǎn)）。注意事項(xiàng):（1）使用時(shí)，通常使用20mm加長(zhǎng)桿；（2）注意：每添加一個(gè)角度，5個(gè)測(cè)尖同時(shí)添加此角度，若不采用某測(cè)尖的此角度，可刪除之。測(cè)針主要用來(lái)觸測(cè)工件表面，通過(guò)測(cè)頭的機(jī)械裝置移位，產(chǎn)生信號(hào)觸發(fā)并采集測(cè)量數(shù)據(jù)。江蘇RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針價(jià)位
盤(pán)形測(cè)針在球的中間鄰近截?cái)嘧龀傻谋P(pán)容貌的測(cè)頭。上海雷尼紹測(cè)頭生產(chǎn)廠
大多數(shù)測(cè)針的測(cè)尖是一個(gè)球頭，常見(jiàn)的材料是人造紅寶石。 此類(lèi)測(cè)尖球度（圓度）的任何誤差都可能成為坐標(biāo)機(jī)測(cè)量不確定度的一個(gè)影響因素，這很可能造成坐標(biāo)機(jī)精度降低10%之多。紅寶石測(cè)球有各種定義為“等級(jí)”的精度級(jí)別，指的是測(cè)球與理想球面的大偏移量。 兩種常用的測(cè)球指標(biāo)是5級(jí)和10級(jí)（等級(jí)越低測(cè)球越好）。 測(cè)球等級(jí)由5級(jí)“降”到10級(jí)，測(cè)針可能會(huì)節(jié)約些許成本，但極有可能影響到所謂5:1比率的理論。問(wèn)題是，測(cè)球等級(jí)無(wú)法用肉眼識(shí)別，在測(cè)量結(jié)果中所起的作用并不明顯，因此難以估計(jì)它是否重要。 一種辦法是，將5級(jí)測(cè)球指定為標(biāo)準(zhǔn)配置： 這種測(cè)球成本也許略高了一點(diǎn)，但如嚴(yán)重到讓合格零件變成廢品，與不合格品的高風(fēng)險(xiǎn)相比，這點(diǎn)成本是微不足道的。 毋庸置疑，坐標(biāo)測(cè)量機(jī)精度越高，測(cè)球等級(jí)的重要性就越大。 在高規(guī)格的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上，由于測(cè)針選擇不當(dāng)測(cè)量精度多會(huì)損失10%。上海雷尼紹測(cè)頭生產(chǎn)廠
上海永慈機(jī)電科技有限公司是一家?guī)缀螠y(cè)試設(shè)備：輪廓儀、圓柱度儀、粗糙度儀、測(cè)長(zhǎng)儀、軸類(lèi)測(cè)量?jī)x、3D形貌儀、投影儀、影像儀、 機(jī)床校準(zhǔn)設(shè)備（激光干涉儀、球桿儀）三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x、三坐標(biāo)配件（測(cè)針、傳感器、測(cè)頭）、比對(duì)儀 3D打印機(jī)、光柵尺、三維掃描儀（GOM）、工業(yè)CT & X-Ray 、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、掃描電鏡、量具 材料測(cè)試設(shè)備：萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)、疲勞試驗(yàn)機(jī)、金相切割機(jī)、鑲嵌、磨拋、耗材、金相顯微鏡、硬度儀 理化分析儀器：直讀光譜儀、手持光譜儀、紅外光譜儀、CS分析儀、ONH分析儀、氣相色譜儀、液相色譜儀、 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、熱分析裝置、分光分度計(jì)（紫外、熒光、原子吸收）、總有機(jī)碳分析儀 非標(biāo)定制設(shè)備：接骨螺釘篩選儀、標(biāo)簽識(shí)別系統(tǒng)、UDI視覺(jué)檢測(cè)、非標(biāo)自動(dòng)包裝流水線、接骨螺釘F543測(cè)試設(shè)備 加工設(shè)備：機(jī)械手拋光系統(tǒng)、五軸加工中心（立式、臥式） 的公司，是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售為一體的專(zhuān)業(yè)化公司。上海永慈作為幾何測(cè)試設(shè)備：輪廓儀、圓柱度儀、粗糙度儀、測(cè)長(zhǎng)儀、軸類(lèi)測(cè)量?jī)x、3D形貌儀、投影儀、影像儀、 機(jī)床校準(zhǔn)設(shè)備（激光干涉儀、球桿儀）三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x、三坐標(biāo)配件（測(cè)針、傳感器、測(cè)頭）、比對(duì)儀 3D打印機(jī)、光柵尺、三維掃描儀（GOM）、工業(yè)CT & X-Ray 、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、掃描電鏡、量具 材料測(cè)試設(shè)備：萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)、疲勞試驗(yàn)機(jī)、金相切割機(jī)、鑲嵌、磨拋、耗材、金相顯微鏡、硬度儀 理化分析儀器：直讀光譜儀、手持光譜儀、紅外光譜儀、CS分析儀、ONH分析儀、氣相色譜儀、液相色譜儀、 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、熱分析裝置、分光分度計(jì)（紫外、熒光、原子吸收）、總有機(jī)碳分析儀 非標(biāo)定制設(shè)備：接骨螺釘篩選儀、標(biāo)簽識(shí)別系統(tǒng)、UDI視覺(jué)檢測(cè)、非標(biāo)自動(dòng)包裝流水線、接骨螺釘F543測(cè)試設(shè)備 加工設(shè)備：機(jī)械手拋光系統(tǒng)、五軸加工中心（立式、臥式） 的企業(yè)之一，為客戶(hù)提供良好的輪廓儀，粗糙度儀，圓度儀，三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x。上海永慈繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長(zhǎng)，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。上海永慈創(chuàng)始人唐軍，始終關(guān)注客戶(hù)，創(chuàng)新科技，竭誠(chéng)為客戶(hù)提供良好的服務(wù)。