XRF分析儀的工作原理可以概述如下：(1) 發(fā)射X射線(xiàn)，激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光; (2) 探測(cè)器接收X射線(xiàn)熒光; (3) 利用復(fù)雜的運(yùn)算對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理; (4) 牌號(hào)識(shí)別。XRF是一種表面檢測(cè)技術(shù)。對(duì)于諸如鋁制類(lèi)的輕合金，XRF分析儀只能對(duì)試樣表面深度幾百微米進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于鑄鐵或銅等主要金屬，XRF分析儀對(duì)試樣的測(cè)量深度小于一百微米。而對(duì)于金或鉛等致密材料，其*能測(cè)量表面的數(shù)十微米。這就意味著材料表面準(zhǔn)確體現(xiàn)總體成分這一點(diǎn)非常關(guān)鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會(huì)對(duì)分析造成極大影響。與此類(lèi)似，噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用XRF分析儀進(jìn)行檢測(cè)之前務(wù)必對(duì)試樣進(jìn)行清潔。奧林巴斯合金分析儀采用X射線(xiàn)熒光(XRF)技術(shù),這是一種獲得材料元素組成的技術(shù)。內(nèi)蒙古DE-2000合金分析儀代理

合金分析儀是基于X射線(xiàn)理論而誕生的，它主要用于**、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和***制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。手持式合金分析儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線(xiàn)熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成。手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線(xiàn)打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線(xiàn)。X射線(xiàn)探測(cè)器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。三元鋰電池分析儀多少錢(qián)在惡劣工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行的要求嚴(yán)苛的應(yīng)用，需要分析儀具有堅(jiān)固耐用的特性。

當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，對(duì)應(yīng)的形成一個(gè)空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。K層電子被擊出稱(chēng)為K激發(fā)態(tài)，同樣L層電子被擊出稱(chēng)為L(zhǎng)激發(fā)態(tài)。此后在很短時(shí)間內(nèi)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，以降低原子能級(jí)。當(dāng)空穴產(chǎn)生在K層，不同外層的電子(L、M、N...層)向空穴躍遷時(shí)放出的能量各不相同，產(chǎn)生的一-系列輻射統(tǒng)稱(chēng)為K系輻射。同樣，當(dāng)空穴產(chǎn)生在L層，所產(chǎn)生一系列輻射則統(tǒng)稱(chēng)為L(zhǎng)系輻射。當(dāng)較外層的電子躍遷(符合量子力學(xué)理論)至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了X熒光。X熒光的能量與入射的能量無(wú)關(guān)，它只等于原子兩能級(jí)之間的能量差。由于能量差完全由該元素原子的殼層電子能級(jí)決定；故稱(chēng)之為該元素的特征X射線(xiàn)，也稱(chēng)熒光X射線(xiàn)或X熒光。

Vanta分析儀的鍍層模式 元素配置：可分析的元素為原子數(shù)大于鈦的元素，包括鈦元素。同一種元素不能在多個(gè)涂層中被重復(fù)分析，包括基底材料。 可選的實(shí)證單點(diǎn)校準(zhǔn)：用戶(hù)可以使用一種內(nèi)部認(rèn)證的樣本對(duì)校準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整。 層的數(shù)量：Vanta分析儀的鍍層模式可以較多測(cè)量3層材料的厚度，不過(guò)各層材料要足夠薄，以使X射線(xiàn)從底層材料返回到探測(cè)器。 基底：可以分析任何基底材料，只要基底材料中不包含涂層材料中存在的元素。奧林巴斯XRF光譜儀是合金材料檢測(cè)理想的現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損分析儀，醫(yī)療設(shè)備制造商很需要的一款簡(jiǎn)易、精確、快速的分析儀器。XRF分析儀準(zhǔn)確的厚度測(cè)量結(jié)果有助于制造商提供質(zhì)量上乘的產(chǎn)品，同時(shí)還可以控制成本。

貴金屬無(wú)損分析儀，包括兩種類(lèi)型的儀器，一種是根據(jù)金屬密度來(lái)粗略估算貴金屬純度的水比重分析儀，另外一種是利用熒光光譜來(lái)分析純度的分析儀。由于比重儀精度低，而自然界與貴金屬密度相接近的金屬很多，所以，當(dāng)今的珠寶界，水比重分析儀基本遭到了市場(chǎng)的摒棄。在此，重點(diǎn)介紹光譜貴金屬分析儀。光譜貴金屬分析儀享有無(wú)損、快速、精確等特點(diǎn)，被普遍用于首飾生產(chǎn)、加工、銷(xiāo)售、質(zhì)檢等部門(mén)。隨著貴金屬行業(yè)的蓬勃發(fā)展，貴金屬的業(yè)務(wù)日益增加，給貴金屬行業(yè)帶來(lái)效益的同時(shí)我們對(duì)產(chǎn)品的工藝，含量的控制越來(lái)越需要高效和準(zhǔn)確。近年來(lái)由于加工工藝不斷提高，各種貴金屬在市場(chǎng)上流通的越來(lái)越多。 奧林巴斯合金分析儀的平均值特性,能夠得出多個(gè)測(cè)試結(jié)果的平均值。北京光譜分析儀代理

分析儀可以用來(lái)對(duì)各種不同類(lèi)型的環(huán)境進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。內(nèi)蒙古DE-2000合金分析儀代理

球磨機(jī)是一種用于研磨或混合多種材料的磨具設(shè)備，應(yīng)用領(lǐng)域包括礦物加工、涂料、煙火制造和陶瓷工業(yè)等。球磨機(jī)采用中空外殼形態(tài)，內(nèi)部填充部分球體（通常是鋼球、陶瓷球或橡膠球，也稱(chēng)為球磨子）。外殼繞軸轉(zhuǎn)動(dòng)，球體在材料的加工過(guò)程中升降起伏，這樣夾在球體之間的顆粒就被磨碎了。 手持式 XRF 分析儀有助于降低成本，確保研磨介質(zhì)的質(zhì)量： 采礦和工業(yè)設(shè)施利用球磨機(jī)研磨攪拌特性來(lái)加工礦物材料，使用正確材料制造的球體有助于確保穩(wěn)定性，從而實(shí)現(xiàn)較高研磨質(zhì)量。內(nèi)蒙古DE-2000合金分析儀代理