XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同?；诰w結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測角儀、X射線強度測量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。X射線單晶體衍儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。奧林巴斯XRD代理收費標準

XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同?；诰w結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。 X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。 X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測角儀、X射線強度測量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。寧波衍射儀代理收費標準X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量，并系統(tǒng)采集各種礦物的標準圖譜。

X射線衍射法是一種研究晶體結構的分析方法，而不是直接研究試樣內含有元素的種類及含量的方法。當X射線照射晶態(tài)結構時，將受到晶體點陣排列的不同原子或分子所衍射。X射線照射兩個晶面距為d的晶面時，受到晶面的反射，兩束反射X光程差2dsinθ使入射波長的整數(shù)倍時，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)），兩束光的相位一致，發(fā)生相長干涉，這種干涉現(xiàn)象稱為衍射，晶體對X射線的這種折射規(guī)則稱為布拉格規(guī)則。θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。n相當于相干波之間的位相差，n=1，2…時各稱0級、1級、2級……衍射線。反射級次不清楚時，均以n=1求d。晶面間距一般為物質的特有參數(shù)，對一個物質若能測定數(shù)個d及與其相對應的衍射線的相對強度，則能對物質進行鑒定。

X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。 近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也普遍。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。X射線衍射即XRD，通過對材料進行X射線衍射。

X射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末; X射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 ! X射線衍射儀包含X射線粉末衍射儀! 由于物質要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術是主流的X射線衍射分析技術.單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構.粉末衍射也可以分析出空間結構.但是大分子（比如蛋白質等）等復雜的很難分析.X射線粉末衍射可以:1,判斷物質是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質.3,判斷物質的晶型.4,計算物質結構的應力.5,定量計算混合物質的比例.6,計算物質晶體結構數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結合會有更普遍的用途。X射線衍射分析相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉。上海奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀定制價格

X射線衍射儀晶體結構分析，如晶體結構測定，物相定性和定量分析。奧林巴斯XRD代理收費標準

當x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。布拉格方程簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當 x射線波長λ已知時(選用固定波長的特征x射線)，采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后，利用布拉格方程即可確定點陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內原子的排布。這便是x射線結構分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變）,以輻射束的波長作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格方程的條件,故選用連續(xù)x射線束。如果利用結構已知的晶體，則在測定出衍射線的方向θ后,便可計算x射線的波長，從而判定產(chǎn)生特征x射線的元素。這便是x射線譜術,可用于分析金屬和合金的成分。奧林巴斯XRD代理收費標準

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