同理壓圈寬度、螺距和起子槽的大小也按直徑范圍的選擇由條件語句完成。2.鏡筒兩端軸向尺寸為保護(hù)前鏡片，鏡筒的前端表面應(yīng)超出凸透鏡前表面某一預(yù)置尺寸。而鏡筒后端表面則要與壓圈后表面相平齊或稍為超出壓圈后表面。3.鏡筒臺階軸向尺寸位于鏡筒內(nèi)孔臺階處的隔圈和壓圈與臺階端面之間必須空出一些距離，以保證各零件尺寸有誤差時(shí)隔圈和壓圈都不得碰到臺階，這樣才能起到應(yīng)有的定位和壓緊作用。本設(shè)計(jì)的鏡筒臺階尺寸是根據(jù)透鏡的邊緣厚度來處理確定的。4.從裝配圖拆出零件圖利用AntoCAD獨(dú)特的圖層處理技術(shù)，用戶根據(jù)需要設(shè)定若干圖層。將不同零件畫在不同層上，運(yùn)用圖層的開啟關(guān)閉、凍結(jié)解凍的作用，就可以方便地從裝配圖上分離出某個(gè)零件圖。本程序特別制作了拾取實(shí)體來實(shí)現(xiàn)層控制的菜單命令。這些菜單是執(zhí)行四個(gè)LISP程序(、、、)。六、鏡頭設(shè)計(jì)實(shí)例表2是設(shè)計(jì)好的光學(xué)系統(tǒng)外形尺寸，也是本實(shí)例結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的已知原始數(shù)據(jù)。圖6是應(yīng)用本文所述的程序，選擇某種結(jié)構(gòu)形式，設(shè)計(jì)出來的鏡頭裝配圖，圖中沒有作任何修改(圖中是在拆零件圖之前零件線條存在重疊現(xiàn)象，拆完零件后可以用一程序消除)。七、結(jié)論(1)對于任意一組常用光學(xué)鏡頭，在已知其光學(xué)系統(tǒng)外形尺寸的情況下。上海光學(xué)測量儀器設(shè)備價(jià)格，可以咨詢位姿科技（上海）有限公司；北京光學(xué)測量制作公司

變速器可以通過順序而不是同時(shí)控制每個(gè)運(yùn)動來減少系統(tǒng)中電動機(jī)的數(shù)量，同時(shí)保持系統(tǒng)的功能。進(jìn)行了一系列初步實(shí)驗(yàn)以及目標(biāo)精度測試，以評估系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。盡管分別具有MRI指導(dǎo)和機(jī)器人輔助的優(yōu)勢，但在該領(lǐng)域，兩種方法的結(jié)合仍然具有挑戰(zhàn)性。機(jī)器人的工作環(huán)境是具有高磁場的密閉空間?？梢栽L問的有限空間要求系統(tǒng)緊湊，同時(shí)又要保持較大的工作空間。為安全起見，盡管高密度磁場中允許使用非鐵磁材料（例如聚合物復(fù)合材料），但是這些類型的材料的機(jī)械性能會損害系統(tǒng)的性能。另外，由于機(jī)器人系統(tǒng)本身是機(jī)電一體化系統(tǒng)，會在成像過程中引入噪聲，因此減少機(jī)器人操作過程中的干擾也是開發(fā)MRI指導(dǎo)機(jī)器人系統(tǒng)的重要因素。鑒于上述所有挑戰(zhàn)，設(shè)計(jì)、制造和評估了許多MRI引導(dǎo)的手術(shù)機(jī)器人，以幫助我們更好地了解系統(tǒng)的設(shè)計(jì)過程以及成像系統(tǒng)和機(jī)器人之間的相互作用。實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)的目的是評估采用變速箱后機(jī)器人的性能。A.初步實(shí)驗(yàn)這些測試的目的是調(diào)查基本任務(wù)（例如移動滑塊）的總體性能。這也可以作為以后目標(biāo)實(shí)驗(yàn)的參考基準(zhǔn)。湖北的光學(xué)測量公司地址深圳光學(xué)測量系統(tǒng)，可以咨詢位姿科技（上海）有限公司；

圖像的光照射在半導(dǎo)體表面上，光子被吸收產(chǎn)生“光生電子”。該電子數(shù)正比于受光強(qiáng)度，從而實(shí)現(xiàn)了光電轉(zhuǎn)換。輸出脈沖的順序可以反映出光敏元件的位置，這就起到圖像傳感的作用。如果希望對圖像進(jìn)行計(jì)算機(jī)處理，CCD是很好的攝像器件，可以將拍攝的圖像信息精確的轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。CCD電荷耦合器件自70年代出現(xiàn)后，不斷完善，發(fā)展很快，出現(xiàn)了很多的CCD芯片。它們突出的優(yōu)點(diǎn)是工作穩(wěn)定、重量輕、功耗低、抗干擾性強(qiáng)、壽命長，主要被應(yīng)用于各種攝像設(shè)備中［7］。由于CCD體積小，因此在內(nèi)窺鏡中和介入型治療儀器中，作為攝像部件可直接放入人體內(nèi)攝取信號，再將傳出的信號由屏幕顯示出來，方便操作者直接看到病人體內(nèi)的圖像，使形態(tài)變的診斷和定位變得非常清楚、可靠。4.醫(yī)用光學(xué)傳感器的發(fā)展方向由于半導(dǎo)體技術(shù)已進(jìn)入了超大規(guī)模集成化階段，對醫(yī)用光學(xué)傳感器的各種制造工藝和材料性能的研究已達(dá)到相當(dāng)高的水平。因此可以預(yù)測它正向著傳感器的固態(tài)化、集成化和多功能化、二維、三維的空間測量和智能化方向發(fā)展。我們可以想象將來有，人們可以利用光纖和先進(jìn)的半導(dǎo)體激光器件開發(fā)出多信息超小型傳感器陣列，再利用多種信息同時(shí)測量技術(shù)。

基準(zhǔn)技術(shù)（例如質(zhì)量和制造可重復(fù)性，基準(zhǔn)相對于相機(jī)的角度響應(yīng)），基準(zhǔn)點(diǎn)的固定（例如，插入的可重復(fù)性，基準(zhǔn)點(diǎn)和標(biāo)記之間的機(jī)械松弛），標(biāo)記的制造（例如制造的可重復(fù)性或幾何校準(zhǔn)的質(zhì)量），標(biāo)記的相對姿勢，標(biāo)記的速度和整體延遲，缺少局部遮擋，與術(shù)前現(xiàn)場登記相關(guān)的殘留錯(cuò)誤，術(shù)前測量/成像儀的準(zhǔn)確性，外科醫(yī)生指出解剖學(xué)界標(biāo)不準(zhǔn)確。特別是對于光學(xué)追蹤系統(tǒng)，固有追蹤精度高度取決于：相機(jī)的分辨率，基線（攝像機(jī)之間的距離），堅(jiān)固性（機(jī)械，熱和老化穩(wěn)定性），在工作空間中基準(zhǔn)點(diǎn)的位置和角度，圖像處理算法的質(zhì)量。FusionTrack250的校準(zhǔn)和準(zhǔn)確性先進(jìn)的光學(xué)追蹤系統(tǒng)已在工廠進(jìn)行了校準(zhǔn)。該過程包括在20°C下在整個(gè)測量體積中將單個(gè)基準(zhǔn)步進(jìn)移動2000個(gè)點(diǎn)以上。由于使用坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）精確測量了點(diǎn)的位置，因此每個(gè)設(shè)備的校準(zhǔn)參數(shù)都經(jīng)過了精細(xì)調(diào)整。通常，CMM校準(zhǔn)的精度比棋盤格校準(zhǔn)或其他標(biāo)準(zhǔn)的原位處理精度高十倍。下圖說明了FusionTrack250的典型固有精度。實(shí)際上，當(dāng)執(zhí)行在，期望的均方根（RMS）精度為90μm。光學(xué)追蹤系統(tǒng)的典型精度數(shù)字請注意，工作容積內(nèi)的誤差不是各向同性的（[X，Y]和Z的誤差有所不同）。在整個(gè)工作空間中。中山光學(xué)測量系統(tǒng)，可以咨詢位姿科技（上海）有限公司；

即使在國內(nèi)外的一些科研院所依然還在被使用。3、光學(xué)系統(tǒng)的搭建基礎(chǔ)是什么？光學(xué)系統(tǒng)（OpticalSystem）是指由透鏡、反射鏡、棱鏡和光闌等多種光學(xué)元件按一定次序組合成的系統(tǒng)。通常用來成像或做光學(xué)信息處理，可以實(shí)現(xiàn)各種檢測。曲率中心在同一直線上的兩個(gè)或兩個(gè)以上折射（或反射）球面組成的光學(xué)系統(tǒng)稱為共軸球面系統(tǒng)，曲率中心所在的那條直線稱為光軸。我們可以簡單地理解為兩個(gè)以上的光學(xué)元件組合使用，就構(gòu)成了光學(xué)系統(tǒng)。在光學(xué)平臺上搭建光學(xué)系統(tǒng)時(shí)，光軸是以光學(xué)平臺為基準(zhǔn)參考。目前傳統(tǒng)的每一個(gè)單獨(dú)調(diào)整架與光學(xué)平臺是有參考基準(zhǔn)的，但是系統(tǒng)中兩個(gè)調(diào)整架之間無基準(zhǔn)系統(tǒng)，這是搭建光學(xué)系統(tǒng)的困難所在，通過觀看視頻1可以了解到細(xì)節(jié)。另外這種老式的光學(xué)調(diào)整架還面臨一些實(shí)際問題。比如，調(diào)整架一旦固定在光學(xué)平臺上，除了高度可以調(diào)節(jié)之外前后左右都不能移動調(diào)整，如圖4b，盡管出現(xiàn)了很多調(diào)節(jié)裝置如圖4a。圖4（左）調(diào)整架的各種調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，（右）固定后不能在移動從圖4不難看出，調(diào)整是非常的不方便?？偨Y(jié)出一句話就是，老式的光學(xué)機(jī)械是無基準(zhǔn)系統(tǒng)，而且無法判斷系統(tǒng)中元件之間的共軸誤差，很難搭建出符合設(shè)計(jì)要求的系統(tǒng)。光學(xué)測量儀器介紹，可以咨詢位姿科技（上海）有限公司；江西的光學(xué)測量制作公司

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  并對實(shí)際測量過程中的浮標(biāo)定位誤差、光學(xué)測量誤差、光學(xué)模糊效應(yīng)和測量時(shí)戳誤差進(jìn)行了建模和仿真分析,給出存在這些誤差條件下光學(xué)浮標(biāo)陣對機(jī)動目標(biāo)的定位精度指標(biāo)。1聯(lián)合定位數(shù)學(xué)模型按照系統(tǒng)可觀測性理論,單個(gè)光學(xué)浮標(biāo)依靠對目標(biāo)方位信息的持續(xù)觀測獲得目標(biāo)航向Cm和距離速度比(D0/Vm)信息,無法獲得目標(biāo)的全要素信息(即目標(biāo)初距D0、目標(biāo)速度Vm以及Cm)。為達(dá)到對目標(biāo)的全要素定位,至少需要2個(gè)光學(xué)浮標(biāo)聯(lián)合工作,利用雙浮標(biāo)分別測量目標(biāo)方位與浮標(biāo)之間的孔徑尺度特征,通過三角定位原理獲得目標(biāo)的概略位置。但在目標(biāo)運(yùn)動到雙浮標(biāo)連線附近時(shí),由于測量方位一致,定位算法無法收斂,且在目標(biāo)發(fā)現(xiàn)自身被攻擊時(shí)進(jìn)行機(jī)動后,雙浮標(biāo)一般無法達(dá)到提供攻擊目標(biāo)指示的需求,因此需多個(gè)浮標(biāo)綜合使用以實(shí)現(xiàn)該戰(zhàn)術(shù)目的。以3光學(xué)浮標(biāo)為例說明多光學(xué)浮標(biāo)聯(lián)合定位的滑窗非線性小二乘法數(shù)學(xué)原理,該原理可以擴(kuò)展為多浮標(biāo)應(yīng)用,卻不局限于3浮標(biāo),如圖1所示。圖1多光學(xué)浮標(biāo)聯(lián)合定位示意圖2誤差模型方位測量誤差方位測量誤差包括兩部分,一部分由傳感器測量的隨機(jī)性引起,另一部分由光學(xué)設(shè)備提取目標(biāo)方位的模糊性引起。光學(xué)浮標(biāo)浮動在海面上,內(nèi)部包含增穩(wěn)裝置。北京光學(xué)測量制作公司