廣東憶存智能裝備有限公司2025-04-05

主要用于測(cè)試SSD的斷電、大量讀/寫(xiě)比對(duì)、全盤(pán)讀/寫(xiě)、指定 Pattern 對(duì)媒介的老化測(cè)試、新增壞塊的統(tǒng)計(jì)和協(xié)議測(cè)試等等;主要分為這幾種 PCT 、BIT 、MDT 與 FDS。 PCT(Power Cycling Test) :各種Pattern異常斷電測(cè)試，測(cè)試SSD算法的斷電處理和重建，驗(yàn)證異常斷電時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)的完整性。 BIT(Burn-In Test): 驗(yàn)證各種Pattern順序或隨機(jī)讀/寫(xiě)是否正常，以及各種Pattern對(duì)媒介的響。 MDT(Multi-Drive Test) : 驗(yàn)證SSD是否支持ATA1-8規(guī)格的命令，將對(duì)SSD發(fā)送所支持命令，并確認(rèn)結(jié)果有無(wú)問(wèn)題。 FDS(Full Drive Scan) : 對(duì)SSD進(jìn)行的全盤(pán)讀寫(xiě)操作，驗(yàn)證映射表是否正確:

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