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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-06-18

    根據(jù)數(shù)據(jù)表中標(biāo)示的IGBT的寄生電容,可以分析dV/dt引起的寄生導(dǎo)通現(xiàn)象??赡艿募纳鷮?dǎo)通現(xiàn)象,是由集電極-柵極和柵極-發(fā)射極之間的固有容性分壓器引起的(請(qǐng)參見圖9)??紤]到集電極-發(fā)射極上的較高瞬態(tài)電壓,這個(gè)固有的容性分壓器比受限于寄生電感的外接?xùn)艠O驅(qū)動(dòng)電路快得多。因此,即使柵極驅(qū)動(dòng)器關(guān)斷了IGBT,即,在零柵極-發(fā)射極電壓狀態(tài)下,瞬態(tài)集電極-發(fā)射極電壓也會(huì)引起與驅(qū)動(dòng)電壓不相等的柵極-發(fā)射極電壓。忽略柵極驅(qū)動(dòng)電路的影響,可以利用以下等式,計(jì)算出柵極-發(fā)射極電壓:因此,商數(shù)Cres/Cies應(yīng)當(dāng)盡可能低,以避免dV/dt引起寄生導(dǎo)通現(xiàn)象(商數(shù)約為35,請(qǐng)參見圖12)。此外,輸入電容應(yīng)當(dāng)盡可能低,以避免柵極驅(qū)動(dòng)損耗。圖12IGBT的寄生電容(摘自數(shù)據(jù)表)數(shù)據(jù)表中給出的寄生電容是在恒定的25V集電極-發(fā)射極電壓條件下的值(請(qǐng)參見圖12)。柵極-發(fā)射極電容約為該恒定集電極-發(fā)射極電壓條件下的值(等式(9))。反向傳遞電容嚴(yán)重依賴于集電極-發(fā)射極電壓,可以利用等式(10)估算得到(請(qǐng)參見圖13):圖13利用等式(9)和(10)計(jì)算得到的不同集電極-發(fā)射極電壓條件下的輸入和反向傳遞電容近似值所以,防止dV/dt引起的寄生導(dǎo)通現(xiàn)象的穩(wěn)定性。當(dāng)反向電壓增大到一定數(shù)值時(shí),反向電流急劇加大,進(jìn)入反向擊穿區(qū),D點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電壓稱為反向擊穿電壓。陜西通用模塊

    IGBT與MOSFET的開關(guān)速度比較因功率MOSFET具有開關(guān)速度快,峰值電流大,容易驅(qū)動(dòng),安全工作區(qū)寬,dV/dt耐量高等優(yōu)點(diǎn),在小功率電子設(shè)備中得到了廣泛應(yīng)用。但是由于導(dǎo)通特性受和額定電壓的影響很大,而且工作電壓較高時(shí),MOSFET固有的反向二極管導(dǎo)致通態(tài)電阻增加,因此在大功率電子設(shè)備中的應(yīng)用受至限制。IGBT是少子器件,它不但具有非常好的導(dǎo)通特性,而且也具有功率MOSFET的許多特性,如容易驅(qū)動(dòng),安全工作區(qū)寬,峰值電流大,堅(jiān)固耐用等,一般來(lái)講,IGBT的開關(guān)速度低于功率MOSET,但是IR公司新系列IGBT的開關(guān)特性非常接近功率MOSFET,而且導(dǎo)通特性也不受工作電壓的影響。由于IGBT內(nèi)部不存在反向二極管,用戶可以靈活選用外接恢復(fù)二極管,這個(gè)特性是優(yōu)點(diǎn)還是缺點(diǎn),應(yīng)根據(jù)工作頻率,二極管的價(jià)格和電流容量等參數(shù)來(lái)衡量。IGBT的內(nèi)部結(jié)構(gòu),電路符號(hào)及等效電路如圖1所示??梢钥闯觯?020-08-30開關(guān)電源設(shè)計(jì):何時(shí)選擇BJT優(yōu)于MOSFET開關(guān)電源電氣可靠性設(shè)計(jì)1供電方式的選擇集中式供電系統(tǒng)各輸出之間的偏差以及由于傳輸距離的不同而造成的壓差降低了供電質(zhì)量,而且應(yīng)用單臺(tái)電源供電,當(dāng)電源發(fā)生故障時(shí)可能導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。分布式供電系統(tǒng)因供電單元靠近負(fù)載,改善了動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性。山東模塊廠家如曲線OD段稱為反向截止區(qū),此時(shí)電流稱為反向飽和電流。

    功率開關(guān)器件在工作前半周與后半周導(dǎo)***寬相等,飽和壓降相等,前后半周交替通斷,變壓器磁心中沒有剩磁。但是,如果IGBT驅(qū)動(dòng)電路輸出脈寬不對(duì)稱或其他原因,就會(huì)產(chǎn)生正負(fù)半周不平衡問題,此時(shí),變壓器內(nèi)的磁心會(huì)在某半周積累剩磁,出現(xiàn)“單向偏磁”現(xiàn)象,經(jīng)過(guò)幾個(gè)脈沖,就可以使變壓器單向磁通達(dá)到飽和,變壓器失去作用,等效成短路狀態(tài)。這對(duì)于IGBT來(lái)說(shuō),極其危險(xiǎn),可能引發(fā)。橋式電路的另一缺點(diǎn)是容易產(chǎn)生直通現(xiàn)象。直通現(xiàn)象是指同橋臂的IGBT在前后半周導(dǎo)通區(qū)間出現(xiàn)重疊,主電路板路,巨大的加路電流瞬時(shí)通過(guò)IGBT。針對(duì)上述兩點(diǎn)不足,從驅(qū)動(dòng)的角度出發(fā)、設(shè)計(jì)的驅(qū)動(dòng)電路必須滿足四路驅(qū)動(dòng)的波形完全對(duì)稱,嚴(yán)格限制比較大工作脈寬,保證死區(qū)時(shí)間足夠,,其驅(qū)動(dòng)與MOSFET驅(qū)動(dòng)相似,是電壓控制器件,驅(qū)動(dòng)功率小。但I(xiàn)GBT的柵極與發(fā)射極之間、柵極與集電極之間存在著結(jié)間電容,在它的射極回路中存在著漏電感,由于這些分布參數(shù)的影響,使得IGBT的驅(qū)動(dòng)波形與理想驅(qū)動(dòng)波形產(chǎn)生較大的變化,并產(chǎn)生了不利于IGBT開通和關(guān)斷的因素。IGBT開關(guān)等效電路如圖2a所示。E是驅(qū)動(dòng)信號(hào)源,R是驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)陰,Rg為柵極串聯(lián)電阻Cge、Cgc分別為柵極與發(fā)射極、集電極之間的寄生電容。

雙向可控硅應(yīng)用現(xiàn)在可控硅應(yīng)用市場(chǎng)很多,可控硅應(yīng)用在自動(dòng)控制領(lǐng)域,機(jī)電領(lǐng)域,工業(yè)電器及家電等方面都有可控硅的身影。許先生告訴記者,他目前的幾個(gè)大單中還有用于卷發(fā)產(chǎn)品的單,可見可控硅在人們的生活中都有應(yīng)用。更重要的是,可控硅應(yīng)用相當(dāng)穩(wěn)定,比方說(shuō)用于家電產(chǎn)品中的電子開關(guān),可以說(shuō)是鮮少變化的。無(wú)論其他的元件怎么變化,可控硅的變化是不大的,這相對(duì)來(lái)說(shuō),等于擴(kuò)大的可控硅的應(yīng)用市場(chǎng),減少了投資的風(fēng)險(xiǎn)??煽毓璧膬?yōu)點(diǎn)很多,例如:以小功率控制大功率,功率放大倍數(shù)高達(dá)幾十萬(wàn)倍;反應(yīng)極快,在微秒級(jí)內(nèi)開通、關(guān)斷;無(wú)觸點(diǎn)運(yùn)行,無(wú)火花、無(wú)噪音;效率高,成本低等等。隨外加電壓的增加正向電流迅速增加,如BC段特性曲線陡直,伏安關(guān)系近似線性,處于充分導(dǎo)通狀態(tài)。

    IGBT的Uge幅值也影響著飽和導(dǎo)通壓降:Uge增加,飽和導(dǎo)通壓降將減小。由于飽和導(dǎo)通壓降是IGBT發(fā)熱的主要原因之一,因此必須盡量減小。通常Uge為15至18V,若過(guò)高,容易造成柵極擊穿。一般取15V,IGBT關(guān)斷時(shí)給其柵極發(fā)射極加一負(fù)偏壓有利于提高IGBT的抗干擾的能力,通常取5到10V。、下降速率對(duì)IGBT的開通和關(guān)斷過(guò)程有著較大的影響。在高頻應(yīng)用場(chǎng)合,驅(qū)動(dòng)電壓的上升、下降速率應(yīng)盡量快一些,以提高IGBT的開關(guān)速度,降低損耗。減小柵極串聯(lián)電阻,可以提高IGBT的開關(guān)速度,降低開關(guān)損耗,用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的頻率范圍,選擇合適的柵極驅(qū)動(dòng)電阻,也可以選擇開通和關(guān)斷不同的柵極串聯(lián)電阻值。在正常情況下IGBT的開通速度越快,損耗越小。但在開通過(guò)程中如有續(xù)流二極管的反向恢復(fù)電流和吸收電容的放電電流,則開通的越快,IGBT承受的峰值電流越大,越容易導(dǎo)致IGBT損壞。因此應(yīng)該降低柵極驅(qū)動(dòng)電壓的上升速率,既增加?xùn)艠O串聯(lián)電阻的阻值,抑制該電流的峰值。其代價(jià)是較大的開通損耗。利用此技術(shù),開通過(guò)程的電流峰值可以控制在任意值。由以上分析可知,柵極串聯(lián)電阻和驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)阻抗對(duì)IGBT開通過(guò)程影響較大,而對(duì)關(guān)斷過(guò)程影響小一些,串聯(lián)電阻小有利于加快關(guān)斷速度,減小關(guān)斷損耗。該器件還適用于通用線電壓整流器應(yīng)用,如電源和標(biāo)準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)。重慶模塊價(jià)格多少

大功率二極管和晶閘管旨在顯著提高眾多應(yīng)用的效率。陜西通用模塊

    PT)技術(shù)會(huì)有比較高的載流子注入系數(shù),而由于它要求對(duì)少數(shù)載流子壽命進(jìn)行控制致使其輸運(yùn)效率變壞。另一方面,非穿通(NPT)技術(shù)則是基于不對(duì)少子壽命進(jìn)行殺傷而有很好的輸運(yùn)效率,不過(guò)其載流子注入系數(shù)卻比較低。進(jìn)而言之,非穿通(NPT)技術(shù)又被軟穿通(LPT)技術(shù)所代替,它類似于某些人所謂的"軟穿通"(SPT)或"電場(chǎng)截止"(FS)型技術(shù),這使得"成本-性能"的綜合效果得到進(jìn)一步改善。1996年,CSTBT(載流子儲(chǔ)存的溝槽柵雙極晶體管)使第5代IGBT模塊得以實(shí)現(xiàn)[6],它采用了弱穿通(LPT)芯片結(jié)構(gòu),又采用了更先進(jìn)的寬元胞間距的設(shè)計(jì)。包括一種"反向阻斷型"(逆阻型)功能或一種"反向?qū)ㄐ?(逆導(dǎo)型)功能的IGBT器件的新概念正在進(jìn)行研究,以求得進(jìn)一步優(yōu)化。IGBT功率模塊采用IC驅(qū)動(dòng),各種驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路,高性能IGBT芯片,新型封裝技術(shù),從復(fù)合功率模塊PIM發(fā)展到智能功率模塊IPM、電力電子積木PEBB、電力模塊IPEM。PIM向高壓大電流發(fā)展,其產(chǎn)品水平為1200-1800A/1800-3300V,IPM除用于變頻調(diào)速外,600A/2000V的IPM已用于電力機(jī)車VVVF逆變器。平面低電感封裝技術(shù)是大電流IGBT模塊為有源器件的PEBB,用于艦艇上的導(dǎo)彈發(fā)射裝置。IPEM采用共燒瓷片多芯片模塊技術(shù)組裝PEBB,**降低電路接線電感。陜西通用模塊

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