現(xiàn)代的硬件驗證語言可以提供一些專門針對驗證的特性，例如帶有約束的隨機化變量、覆蓋等等。作為硬件設(shè)計、驗證統(tǒng)一語言，SystemVerilog是以Verilog為基礎(chǔ)發(fā)展而來的，因此它同時具備了設(shè)計的特性和測試平臺的特性，并引入了面向?qū)ο蟪绦蛟O(shè)計的思想，因此測試平臺的編寫更加接近軟件測試。諸如通用驗證方法學的標準化驗證平臺開發(fā)框架也得到了主流電子設(shè)計自動化軟件廠商的支持。針對高級綜合，關(guān)于高級驗證的電子設(shè)計自動化工具也處于研究中。集成電路設(shè)計需要考慮電路功能、性能和功耗等多個因素。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計比較可靠

值得注意的是，電路實現(xiàn)的功能在之前的寄存器傳輸級設(shè)計中就已經(jīng)確定。在物理設(shè)計階段，工程師不不能夠讓之前設(shè)計好的邏輯、時序功能在該階段的設(shè)計中被損壞，還要進一步優(yōu)化芯片按照正確運行時的延遲時間、功耗、面積等方面的性能。在物理設(shè)計產(chǎn)生了初步版圖文件之后，工程師需要再次對集成電路進行功能、時序、設(shè)計規(guī)則、信號完整性等方面的驗證，以確保物理設(shè)計產(chǎn)生正確的硬件版圖文件。隨著超大規(guī)模集成電路的復(fù)雜程度不斷提高，電路制造后的測試所需的時間和經(jīng)濟成本也不斷增加。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計比較可靠集成電路設(shè)計需要進行可制造性和可測試性設(shè)計，以提高產(chǎn)品的制造效率。

在許多設(shè)計中，自頂向下、自底向上的設(shè)計方法學是混合使用的，系統(tǒng)級設(shè)計人員對整體體系結(jié)構(gòu)進行規(guī)劃，并進行子模塊的劃分，而底層的電路設(shè)計人員逐層向上設(shè)計、優(yōu)化單獨的模塊。，兩個方向的設(shè)計人員在中間某一抽象層次會合，完成整個設(shè)計。對于不同的設(shè)計要求，工程師可以選擇使用半定制設(shè)計途徑，例如采用可編程邏輯器件（現(xiàn)場可編程邏輯門陣列等）或基于標準單元庫的集成電路來實現(xiàn)硬件電路；也可以使用全定制設(shè)計，控制晶體管版圖到系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的全部細節(jié)。

以往，人們將絕大多數(shù)精力放在設(shè)計本身，而并不考慮之后的測試，因為那時的測試相對更為簡單。近年來，測試本身也逐漸成為一個龐大的課題。比如，從電路外部控制某些內(nèi)部信號使得它們呈現(xiàn)特定的邏輯值比較容易，而某些內(nèi)部信號由于依賴大量其它內(nèi)部信號，從外部很難直接改變它們的數(shù)值。此外，內(nèi)部信號的改變很多時候不能在主輸出端觀測（有時主輸出端的信號輸出看似正確，其實內(nèi)部狀態(tài)是錯誤的，觀測主輸出端的輸出不足以判斷電路是否正常工作）。以上兩類問題，即可控制性和可觀測性，是可測試性的兩大組成部分。集成電路設(shè)計需要進行用戶體驗和人機交互設(shè)計，以提高產(chǎn)品的易用性和用戶滿意度。

集成電路設(shè)計（Integrated circuit design, IC design），亦可稱之為超大規(guī)模集成電路設(shè)計（VLSI design），是指以集成電路、超大規(guī)模集成電路為目標的設(shè)計流程。集成電路設(shè)計涉及對電子器件（例如晶體管、電阻器、電容器等）、器件間互連線模型的建立。所有的器件和互連線都需安置在一塊半導體襯底材料之上，這些組件通過半導體器件制造工藝（例如光刻等）安置在單一的硅襯底上，從而形成電路。集成電路設(shè)計常使用的襯底材料是硅。設(shè)計人員會使用技術(shù)手段將硅襯底上各個器件之間相互電隔離，以控制整個芯片上各個器件之間的導電性能。集成電路設(shè)計還需要進行物理布局和布線，以滿足電路的性能要求。邢臺哪家公司集成電路設(shè)計值得推薦

集成電路設(shè)計需要進行性能測試和驗證，以確保產(chǎn)品的性能指標。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計比較可靠

時序分析所需的邏輯門標準延遲格式信息可以由標準單元庫（或從用戶自己設(shè)計的單元從提取的時序信息）提供。隨著電路特征尺寸不斷減小，互連線延遲在實際的總延時中所占的比例愈加，因此在物理設(shè)計完成之后，把互連線的延遲納入考慮，才能夠地進行時序分析。邏輯綜合完成之后，通過引入器件制造公司提供的工藝信息，前面完成的設(shè)計將進入布圖規(guī)劃、布局、布線階段，工程人員需要根據(jù)延遲、功耗、面積等方面的約束信息，合理設(shè)置物理設(shè)計工具的參數(shù)，不斷調(diào)試，以獲取的配置，從而決定組件在晶圓上的物理位置。如果是全定制設(shè)計，工程師還需要精心繪制單元的集成電路版圖，調(diào)整晶體管尺寸，從而降低功耗、延時。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計比較可靠

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